特許
J-GLOBAL ID：200903046375840990
容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-037206
公開番号（公開出願番号）：特開平9-211041
出願日： 1996年01月30日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：
【要約】【課題】 容量性素子の等価直列抵抗を正確に測定できる容量性素子の等価直列抵抗測定方法を提供することを主目的とする。【解決手段】 測定対象物である容量性素子Cを一定電流で所定時間充電し、容量性素子Cの端子間電圧を測定した直後に充電を停止し、充電停止後の端子間電圧を測定し、充電停止直前の端子間電圧と充電停止後の端子間電圧との差電圧を一定電流の値で除算することによって容量性素子Cの等価直列抵抗を測定する。
請求項（抜粋）：
測定対象物である容量性素子を一定電流で所定時間充電し、前記容量性素子の端子間電圧を測定した直後に充電を停止し、充電停止後の前記端子間電圧を測定し、充電停止直前の前記端子間電圧と充電停止後の前記端子間電圧との差電圧を前記一定電流の値で除算することによって前記容量性素子の等価直列抵抗を測定することを特徴とする容量性素子の等価直列抵抗測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 R
, G01R 27/26 C
