特許
J-GLOBAL ID：200903046401757460
帯状体の表面欠陥検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高野 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-335469
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170452
出願日： 1996年12月16日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：
【要約】【課題】 帯状体表面の全般的な変色等をヘゲやスリキズ等の通常欠陥と誤判定することを防止する表面欠陥検出装置を提供する。【解決手段】 帯状体表面からの反射光を検出器に導く光学系と、検出器の出力信号を画像解析することにより、帯状体の表面欠陥の種類および等級を判定する欠陥判定部を有する帯状体の表面欠陥検出装置において、(イ)検出器32の出力信号を信号処理して表面欠陥の種類および等級を判定する通常欠陥判定部40と、(ロ)検出器32の出力信号を積分してこの積分値と予め設定されている変色についてのしきい値とを比較して変色の有無を判定する変色判定部50と、(ハ)通常欠陥判定部40と変色判定部50とにより得られた判定結果を予め決めてある方法で編集して出力する判定結果編集部60と、を備えたことを特徴とする帯状体の表面欠陥検出装置。
請求項（抜粋）：
帯状体表面からの反射光を検出器に導く光学系と、検出器の出力信号を画像解析することにより、帯状体の表面欠陥の種類および等級を判定する欠陥判定部を有する帯状体の表面欠陥検出装置において、(イ)検出器の出力信号を信号処理して表面欠陥の種類および等級を判定する通常欠陥判定部と、(ロ)検出器の出力信号を積分してこの積分値と予め設定されている変色についてのしきい値とを比較して変色の有無を判定する変色判定部と、(ハ)通常欠陥判定部と変色判定部とにより得られた判定結果を予め決めてある方法で編集して出力する判定結果編集部と、を備えたことを特徴とする帯状体の表面欠陥検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
審査官引用 (2件)
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特開昭61-245045
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特開昭61-245045
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