特許
J-GLOBAL ID:200903046418952429

厚板表面疵検査方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢葺 知之 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-107985
公開番号(公開出願番号):特開2002-303582
出願日: 2001年04月06日
公開日(公表日): 2002年10月18日
要約:
【要約】【課題】 鮮明な表面疵の画像を得ることができる厚板表面疵検査方法を提供する。【解決手段】 照明用光源1で照射した厚板表面を撮像し、画像処理装置20で画像信号を処理して画像出力装置25で画像を表示し、厚板1の表面疵を検査する方法において、20〜40 ゚の投光角αで厚板表面を照射し、α±10 ゚の受光角βで厚板表面を撮像する。投光角度を小さくし、撮像装置15は照明用光源10からの照射光のほぼ正反射方向に位置しているので、表面疵の影により鮮明な表面疵の画像が得られる。
請求項(抜粋):
照明用光源で照射した厚板表面を撮像し、画像処理装置で画像信号を処理し、画像出力装置で画像を表示して厚板の表面疵を検査する方法において、20 ゚〜40 ゚の投光角αで厚板表面を照射し、α±10 ゚の受光角βで厚板表面を撮像することを特徴とする厚板表面疵検査方法。
IPC (2件):
G01N 21/892 ,  B21C 51/00
FI (2件):
G01N 21/892 B ,  B21C 51/00 P
Fターム (10件):
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051CC07 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11

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