特許
J-GLOBAL ID：200903046425299293
2次元蛍光寿命測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-025290
公開番号（公開出願番号）：特開平9-218155
出願日： 1996年02月13日
公開日（公表日）： 1997年08月19日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構成であって短時間に精度よく2次元蛍光寿命を測定する。【解決手段】 パルス光源10から出力されたパルス励起光Aが被測定物30に照射されて発生した蛍光Bは、ビームスプリッタ50によって蛍光B1およびB2とに分岐される。この蛍光B1およびB2は、遅延光学系60によって両者間に所定の光路長差が与えられた後、撮像タイミング生成部80から出力された撮像タイミング信号が指示する所定時刻に、撮像部70によって光像が撮像される。ここで撮像された蛍光B1およびB2それぞれの光像は、被測定物30において互いに異なる時刻に発生した蛍光の像であるので、演算部90によって、撮像された蛍光B1およびB2それぞれの光像の強度比に基づいて2次元蛍光寿命が算出される。
請求項（抜粋）：
被測定物にパルス励起光を照射する第1のステップと、前記パルス励起光が照射された前記被測定物から発生した蛍光を分岐し第1の光束と第2の光束とを形成する第2のステップと、前記第1および前記第2の光束の間に所定の光路長差を与える第3のステップと、前記所定の光路長差が与えられた前記第1および前記第2の光束それぞれの像を、前記パルス励起光の散乱光がもはや存在しない所定時刻に撮像する第4のステップと、撮像された前記第1および前記第2の光束それぞれの像に基づいて、前記被測定物上の各位置から発生した蛍光の寿命を算出する第5のステップと、を備えることを特徴とする2次元蛍光寿命測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/64 B
, G01N 21/76
