特許
J-GLOBAL ID：200903046440959020
物質の特性の化学測定学的評価を向上させる方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡部 正夫 (外9名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-507166
公開番号（公開出願番号）：特表平8-503075
出願日： 1994年08月15日
公開日（公表日）： 1996年04月02日
要約：
【要約】本発明は、物質の物性の評価を向上させる方法であって、該物質の赤外線スペクトルに基づいて、他の測定技術から得られた追加のデータを該赤外線スペクトルに補足して、該物質中の痕跡化合物に対する赤外線分光計による感受性の欠落から生じるスペクトルデータ中の空所を満たすことによってなされる。増大したスペクトルデータは使用され該物質の物性を評価するためのカリブレーションモデルがつくられる。
請求項（抜粋）：
物質のランダム試料中の関心ある特性の評価を向上させるための方法であって: a)一次基準法を使用して該物質の複数試料のカリブレーションセットについて関心ある特性を定量化して一次基準データベースを形成し; b)該試料のカリブレーションセットについて赤外線スペクトルを発生させてスペクトルのカリブレーションセットを形成し; c)該試料のカリブレーションセット内の痕跡化合物に感応するデータを得; d)工程cからの痕跡化合物感応データを工程bからのスペクトルのカリブレーションセットに結びつけてスペクトルの増大カリブレーションセットをつくり; e)工程dからのスペクトルの増大カリブレーションセットを工程aからの一次基準データベースと相関させ; f)該ランダム試料について赤外線スペクトルを発生させ; g)該ランダム試料中の痕跡化合物に感応するデータを得; h)工程gからの痕跡化合物感応データを主程fからの赤外線スペクトルに結びつけて該ランダム試料についての増大スペクトルをつくり; i)工程hからの該ランダム試料についての増大スペクトルに工程eからの相関を適用することによって該ランダム試料の課題特性を評価する工程からなる方法。
IPC (4件)：
G01N 21/35
, G01J 3/28
, G01N 21/65
, G01N 30/74
