特許
J-GLOBAL ID：200903046452916270
画像形成装置における表面電位検出器の校正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大澤 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-134775
公開番号（公開出願番号）：特開平5-323748
出願日： 1992年05月27日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 コストアップや装置を複雑化することなく、表面電位検出器を校正するだけで感光体の表面電位を精度良く検出して安定した画像品質が得られるようにする。【構成】 リレースイッチ30を常閉接点bを開いて常開接点aを閉じるように切り換えて現像バイアス電源32から感光体ベルト5のAl基板5aに基準電圧を印加しながら感光体ベルト5を回動させ、その時表面電位センサ(表面電位検出器)21から得られる電位測定値を基準値として表面電位センサ21を校正する。この場合、感光体ベルト5が1周する間に表面電位センサ21から得られる電位測定値を所定間隔で順次サンプリングしてその各測定値を平均化し、その平均化した値を基準値とするとよい。また、表面電位センサ21の校正時には感光体ベルト5を画像形成時より遅い速度で回動させるとよい。
請求項（抜粋）：
感光体の表面電位を測定する表面電位検出器を備えた画像形成装置において、前記感光体の基板に基準電圧を印加しながら該感光体を回動させ、その時前記表面電位検出器から得られる電位測定値を基準値として該表面電位検出器を校正することを特徴とする表面電位検出器の校正方法。
IPC (2件)：
G03G 15/00 303
, G01R 29/12
