特許
J-GLOBAL ID：200903046526554979
薄板検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 昇 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-113579
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310997
出願日： 2001年04月12日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：
【要約】【課題】 探傷不能領域を低減し得る薄板検査方法を提供する。【解決手段】 薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置され板波を送受信するためのコイルとを具備する電磁超音波探触子10を使用して薄板を検査する方法であって、電磁超音波探触子10を薄板Sの両エッジ部のいずれか一方に配置することを特徴とする。或いは、薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置されたコイルとを具備する電磁超音波探触子を使用して薄板を検査する方法であって、板波送信用の電磁超音波探触子を薄板中央部に配置し、板波受信用の電磁超音波探触子を薄板両エッジ部に配置することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置され板波を送受信するためのコイルとを具備する電磁超音波探触子を使用して薄板を検査する方法であって、電磁超音波探触子を薄板両エッジ部のいずれか一方に配置することを特徴とする薄板検査方法。
Fターム (12件)：
2G047AA07
, 2G047AB04
, 2G047BA02
, 2G047BC09
, 2G047CA02
, 2G047CB04
, 2G047DA01
, 2G047DB03
, 2G047EA08
, 2G047EA11
, 2G047GA14
, 2G047GC02
