特許
J-GLOBAL ID：200903046585839561
ビーム位置モニタ方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-092630
公開番号（公開出願番号）：特開平6-310299
出願日： 1993年04月20日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：
【要約】【目的】 電子ビームの加速を行ないながら電子ビームの位置を検出することができ、かつ電磁ノイズの影響のないビーム位置測定方法を提供する。【構成】 ビームダクト6内において回転運動をする電子に対しレーザ光を衝突させ、逆コンプトン散乱によって発生する高エネルギ光子を散乱光測定器4により計測し、電子ビームの位置を測定する。
請求項（抜粋）：
電子蓄積リング内において加速された高エネルギ電子ビームにレーザ光を衝突させ、逆コンプトン散乱によって発生する高エネルギ光子を計測して電子ビームの位置を測定するビーム位置モニタ方法。
IPC (2件)：
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