特許

J-GLOBAL ID：200903046640562175

フィルム表面測定装置

発明者： 土渕 毅 ,  鈴木 康志
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-133839
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318527
出願日： 1996年05月28日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：

【要約】【課題】 連続的にフィルム表面の全範囲を測定できるとともに、プリズムやフィルムに傷が付くのを防止できるようにする。【解決手段】 フィルム5が2つのフィルム送り用ローラー1の間に渡され、所定の位置で、フィルム送り用ローラー1が停止し、フィルム密着用アーム2が下方に移動してフィルム5をプリズム3に押し付けるようにする。一方、赤外光源から平行束の赤外光がビームコンデンサ4によりプリズム3の一点に集束され、フィルム5の表面特性に応じた波長成分が吸収された後、全反射されて再びプリズム3に入り、ビームコンデンサ4で平行束とされた後、赤外分光光度計等へ入力される。測定が終了すると、フィルム密着用アーム2が上方へ移動してフィルム5を押し付けるのを解除し、停止していたフィルム送り用ローラー1が再び回転することによってフィルム5が送られ継続して測定が行われる。

請求項（抜粋）：

赤外光をプリズムを介してフィルム表面に照射し、全反射してきた赤外光によりフィルム表面の測定を行う装置において、フィルムの測定面を連続的にプリズム表面に移動供給させながら間欠的にフィルムをプリズムに密着及び離脱可能な機構を有することを特徴とするフィルム表面測定装置。