特許

J-GLOBAL ID：200903046686729643

試料保持装置および試料保持方法

発明者： 廣島 正一
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-345739
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160256
出願日： 1997年12月02日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】 微量の粉体試料を保持し、分析することを可能とする試料保持技術を提供する。【解決手段】 試料台1の冷却面に粉体試料の保持材として低融点合金層2を設置する。低融点合金層2を加熱融解させた後、液状化した低融点合金層2の表面に粉体試料4を埋め込む。速やかにペルチェ効果素子3で低融点合金層2を冷却して固化させることで粉体試料4を固定する。

請求項（抜粋）：

試料を保持するための保持材と、その保持材を冷却する冷却手段とを備え、前記保持材を低融点合金で構成してあることを特徴とする、試料保持装置。

IPC (4件)：

G01N 23/225 ,  G01N 1/28 ,  G01N 23/227 ,  H01J 37/20

FI (4件)：

G01N 23/225 ,  G01N 23/227 ,  H01J 37/20 A ,  G01N 1/28 W