特許
J-GLOBAL ID:200903046767458830
接触型プローブ装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石井 暁夫 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-210710
公開番号(公開出願番号):特開2001-033482
出願日: 1999年07月26日
公開日(公表日): 2001年02月09日
要約:
【要約】【課題】 電子部品又はプリント基板等の被検査物の電気的性能を、その端子電極に通電用のプローブ3を押圧接触することによって検査する場合に、前記プローブにデジタルノイズ等のノイズが入ることを回避する。【解決手段】 導体製のガイド管5にて、ばね9にて突出状態に付勢される針状接触体を摺動自在に保持して成るプローブ3に、グランドに接続した導体製の筒体7を被嵌する。
請求項(抜粋):
保持部材に移動不能に支持した導体製のガイド管と、その内部に摺動自在に挿入した導体製の針状接触体と、この針状接触体を前記ガイド管から突出するように付勢するばね体とから成るプローブ装置において、前記ガイド管の外側に、グランドに接続した導体製の筒体を、その間に絶縁体を挟んで被嵌する一方、前記針状接触体の先端を前記筒体の先端から突出したことを特徴とする接触型プローブ装置。
Fターム (7件):
2G011AA02
, 2G011AB01
, 2G011AB03
, 2G011AB04
, 2G011AB09
, 2G011AC33
, 2G011AE01
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