特許

J-GLOBAL ID：200903046777280550

3次元画像検出装置

発明者： 垣内 伸一
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 松浦 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-330162
公開番号（公開出願番号）：特開2001-148868
出願日： 1999年11月19日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：

【要約】【課題】 測距光を照射し、被写体からの反射光を受光することにより被写体までの距離を画素毎に検出する3次元画像検出装置において、距離情報の信号レベルと被写体表面の反射率に関する反射率情報の信号レベルを合わせる。【解決手段】 被写体に幅TS のパルス状の測距光を照射し、その反射光のうち蓄積期間TU1に受光される光(斜線部A1)に関する信号電荷を距離情報として検出する。同一の測距光を被写体に照射し、その反射光を蓄積期間TU2に全て受光し、受光された光(斜線部A2)に関する信号電荷を反射率情報として検出する。被写体を代表する1つの画素で検出される距離情報、反射率情報(斜線部A1、A2)の比からTD /TS を算出する。反射率情報を検出する際に照射される測距光の出力を距離情報を検出するときのTD /TS にし、距離情報、反射率情報に対応する信号電荷量を等しくする。

請求項（抜粋）：

被写体に第1及び第2の測距光を照射するための光源と、前記光源の発光を制御する光源制御手段と、所定の蓄積期間内に前記第1の測距光による前記被写体からの反射光を撮像部において受光することによって生じる第1の信号電荷に基づいて、前記被写体までの距離情報を画素毎に検出する距離情報検出手段と、前記第2の測距光による前記被写体からの反射光を前記撮像部において受光することにより生じ、受光された前記反射光の全光量に対応する第2の信号電荷に基づいて、前記測距光が前記被写体の表面で反射するときに受ける影響に関する情報である反射率情報を前記画素毎に検出する反射率情報検出手段と、前記第1の信号電荷と前記第2の信号電荷とが、前記被写体の被計測領域に対応する画素において略同じ大きさとなるように前記光源制御手段を制御して前記第1の測距光と前記第2の測距光の出力を調整する出力調整手段とを備えることを特徴とする3次元画像検出装置。

IPC (4件)：

H04N 13/02 ,  G01B 11/00 ,  G01S 17/88 ,  G06T 7/00

FI (4件)：

H04N 13/02 ,  G01B 11/00 B ,  G01S 17/88 ,  G06F 15/62 415

Fターム (63件)：

2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065DD04 ,  2F065DD12 ,  2F065EE00 ,  2F065EE05 ,  2F065FF12 ,  2F065FF42 ,  2F065GG04 ,  2F065GG06 ,  2F065GG08 ,  2F065GG12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL30 ,  2F065NN02 ,  2F065NN11 ,  2F065NN17 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ47 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DB03 ,  5C061AA29 ,  5C061AB02 ,  5C061AB03 ,  5C061AB06 ,  5C061AB08 ,  5C061AB21 ,  5C061AB24 ,  5J084AA05 ,  5J084AA13 ,  5J084AA20 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BA40 ,  5J084BB01 ,  5J084BB35 ,  5J084BB37 ,  5J084CA03 ,  5J084CA19 ,  5J084CA31 ,  5J084CA34 ,  5J084CA49 ,  5J084CA55 ,  5J084CA67 ,  5J084CA69 ,  5J084CA70 ,  5J084CA76 ,  5J084DA05 ,  5J084DA07 ,  5J084DA10 ,  5J084EA01 ,  5J084EA11