特許
J-GLOBAL ID：200903046885782200
異常診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山崎 宏
, 大森 忠孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-095236
公開番号（公開出願番号）：特開2005-284519
出願日： 2004年03月29日
公開日（公表日）： 2005年10月13日
要約：
【課題】 ある監視対象機器からの信号と、それとは別の監視対象機器からの信号が、同じ周波数帯の信号である場合にも、監視対象機器毎に異常の診断ができる異常診断装置を提供すること。【解決手段】 この異常診断装置は、3つのセンサ3,13,23と、3つのセンサ3,13,23の夫々からの信号5,15,25を、前処理装置35を介して信号37として間接的に受ける独立成分分析処理装置40とを備える。上記独立成分分析処理装置40は、独立成分分析を用いて信号37から空間的、時間的および周波数的に独立な成分を分離して抽出した後、この分離して抽出した信号41,42,43を夫々異常判定装置51,52,53に出力するようになっている。上記異常判定装置51,52,53は、夫々、信号41,42,43に基づいて機械1,11,21の異常の有無の診断を行うようになっている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の監視対象機器の全てからの物理量を各々が検出する複数のセンサと、
上記複数のセンサからの信号を受けて、受けた信号の中から独立な成分を分離して抽出する独立成分分析処理装置と、
上記独立成分分析処理装置からの上記各監視対象機器に対応する出力に基づいて上記各監視対象機の異常の有無を判定する異常判定装置と
を備えることを特徴とする異常診断装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
出願人引用 (1件)
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機械部品の監視システム
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-255721
出願人：エヌティエヌ株式会社
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