特許

J-GLOBAL ID：200903046893364744

線形回路網の解析装置

発明者： 浅井 朗
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-112597
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318603
出願日： 1994年05月26日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】 線形回路網中に配設された素子の抵抗に対し各素子間の配線抵抗が十分小さい場合でも高精度に解析でき、しかも、その解析結果を直感的に把握することを可能にする。【構成】 被測定回路110が低アドミッタンス素子と当該素子間の高アドミッタンス素子の線形な集合体である場合、その被測定回路110の端子電圧を端子電圧測定器101で測定し、その測定結果と被測定回路110に固有な定数データを獲得する。この後、低アドミッタンス岐路を除いて得られるアドミッタンス行列Y0と、高アドミッタンス岐路を除いて得られるアドミッタンス行列Y1の和Y=Y0+Y1として表現し、節点節点電位ベクトルVを漸化式、Y0V0=I、 Y0V1=-Y1V0 ・・・ Y0Vn=-Y1Vn-1の解{V0、V1、・・、Vn}を用いて、V=V0+V1+・・・+Vnとして近似する。

請求項（抜粋）：

低アドミッタンスの線形素子が配設され、当該素子間に高アドミッタンスの抵抗が配設された線形回路網の解析装置にであって、被解析対象の線形回路網に加えられる端子電圧を検出する端子電圧検出手段と、前記線形回路網における低アドミッタンスと高アドミッタンスの回路定数を入力する入力手段と、前記端子電圧検出手段で得られた端子電圧V0と前記入力手段で得られた回路定数に基づき、低アドミッタンス岐路と高アドミッタンス岐路を含む回路網のアドミッタンス行列Yを低アドミッタンス岐路を取り除いて得られるアドミッタンス行列Y0と高アドミッタンス岐路を取り除いて得られるアドミッタンス行列Y1の和としてあらわし、更に電源によって与えれる節点電流ベクトルをIであらわし、次の漸化式によって節点電位ベクトルViを算出する手段と、Y0V0=IY0V1=-Y1V0・・・Y0Vn=Y1Vn-1前記算出手段の解{V0,V1,・・・,Vn}を用いて、V=V1+V2+・・・Vnとして近似する手段と、近似された計算結果を視覚的に表示する表示手段とを備えることを特徴とする線形回路網の解析装置。