特許
J-GLOBAL ID：200903046957247143
ディスプレイ基板の検査装置及びその検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-108064
公開番号（公開出願番号）：特開平5-303068
出願日： 1992年04月27日
公開日（公表日）： 1993年11月16日
要約：
【要約】【目的】 ディスプレイ基板が液晶表示パネルに組立てられる前にその欠陥箇所を、確実かつ迅速に発見することができる検査装置及びその方法を提供する。【構成】 ディスプレイ基板の上部に対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子と、検査素子に光を照射する光源と、検査素子に照射されて、検査素子から出された光を捕らえる受光器と、ディスプレイ基板上の画素電極と前記検査素子との間に電圧を印加する電源と、受光器が捕らえた光の変化を測定する計測手段を具備してなる。【効果】 液晶パネル組立前に、欠陥数と欠陥の種類の把握を容易に行なえる。
請求項（抜粋）：
基板上に形成された複数の画素電極を有するディスプレイ基板を検査する装置において、前記ディスプレイ基板の上部に対向配置され、電場を印加すると光学的性質が変化する検査素子と、前記検査素子に光を照射する光源と、前記検査素子に照射されて、検査素子から出された光を捕らえる受光器と、前記ディスプレイ基板上の前記画素電極と前記検査素子との間に電圧を印加する電源と、前記受光器が捕らえた光の変化を測定する計測手段を具備してなることを特徴とするディスプレイ基板の検査装置。
IPC (3件)：
G02F 1/13 101
, G01R 31/00
, G02F 1/1343
