特許

J-GLOBAL ID：200903046976104795

光周波数フイルタ測定装置

発明者： 井上 靖之 ,  立川 吉明 ,  岡本 勝就 ,  河内 正夫
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-294545
公開番号（公開出願番号）：特開平5-133840
出願日： 1991年11月11日
公開日（公表日）： 1993年05月28日
要約：

【要約】【目的】 光周波数フィルタの正確な評価を可能にする光周波数フィルタ測定装置を提供する。【構成】 光周波数フィルタ測定装置は、光周波数が100GHz以内の範囲で互いに近接しており、外部共振器付きの半導体レーザであるレーザ光源1および半導体レーザであるレーザ光源2と、局部発振光の偏波面を制御する偏波コントローラ3と、被測定サンプルである光周波数フィルタ7に入射し、透過した、レーザ光源2からの光と、レーザ光源1からの光を合波する3dBカップラ4と、3dBカップラ4で合波された光を電気信号に変換する光電気信号変換器5と、該電気信号を観測するスペクトラムアナライザ6とから構成されている。

請求項（抜粋）：

光周波数が100GHz以内の範囲で互いに近接しており、一方は外部共振器付きの半導体レーザまたは気体レーザまたは固体レーザであり、他方は半導体レーザである2つのレーザ光源と、被測定サンプルである光周波数フィルタに入射し、透過した、前記他方のレーザ光源からの光と、前記一方の光源からの光を合波する3dBカップラと、該3dBカップラで合波された光を電気信号に変換する光電気信号変換器と、該電気信号を観測するスペクトラムアナライザとを有する光周波数フィルタ測定装置。