特許
J-GLOBAL ID：200903047020966230
光測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-120671
公開番号（公開出願番号）：特開2000-310592
出願日： 1999年04月27日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
要約：
【要約】【課題】 対応するリファレンス信号の値を求めることなく、異なるサイズの被測定物を測定することができる光測定装置を提供する。【解決手段】 コンベア10によって搬送される被測定物H,H,...がサイズ測定器3を通過する都度、演算部21は、フォトセンサ32から与えられた受光結果に基づいて、被測定物Hの直径を算出し、その結果を制御部22に与える。制御部22には、被測定物Hの直径と光量調整器7に印加すべき電圧との関係が予め設定してあり、制御部22は、演算部21から与えられた被測定物Hの直径に対応する印加電圧を決定し、決定した印加電圧になるように、電源回路8をして光量調整器7に電圧を印加せしめる。これによって、測定すべき被測定物Hのサイズに応じた電圧が光量調整器7に印加され、被測定物のサイズに拘わらず、被測定物の透過光の光量が略一定になる。
請求項（抜粋）：
被測定物の寸法を測定する寸法測定器(3)と、被測定物に投光する投光器(4)と、該投光器(4)が被測定物へ投光し、該被測定物を透過した光が入射する受光器(5)とを備え、該受光器(5)に入射された光を分光して前記被測定物の状態を測定する装置において、前記投光器(4)と受光器(5)との間の光路に介装してあり、受光器(5)に入射される光の強度を調整する調整器(7)と、前記寸法測定器(3)によって測定された被測定物の寸法に基づいて、前記調整器(7)による光の強度の調整動作を制御する制御部(22)とを備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (3件)：
G01N 21/01
, G01B 11/00
, G01N 21/35
G01N 21/01 D
, G01B 11/00 Z
, G01N 21/35 Z
2F065AA00
, 2F065AA22
, 2F065AA26
, 2F065AA61
, 2F065BB05
, 2F065CC00
, 2F065FF02
, 2F065FF46
, 2F065HH15
, 2F065JJ05
, 2F065LL02
, 2F065LL21
, 2F065LL30
, 2F065LL53
, 2F065LL67
, 2F065MM02
, 2F065NN03
, 2F065PP15
, 2F065QQ15
, 2G059AA01
, 2G059BB11
, 2G059CC20
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ17
, 2G059JJ18
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059NN10
