特許
J-GLOBAL ID:200903047054357968

撮像式の評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 北村 修 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-256205
公開番号(公開出願番号):特開平10-104165
出願日: 1996年09月27日
公開日(公表日): 1998年04月24日
要約:
【要約】【課題】 複数個の撮像手段を設けることなく、1つの撮像手段によって、同一の検査対象物について異なる光学特性の複数個の撮像画像情報を得て、検査対象物の品質を適切に評価するようにし、装置費用を低減させる。【解決手段】 検査対象物kの存在予定箇所Sに対して、照明手段2からの照明光が投射され、存在予定箇所Sでの検査対象物kの画像が、撮像手段3の撮像面3bを設定個数に分割した各撮像領域夫々に異なる光学特性で結像され、その撮像手段3の分割された各撮像領域での各撮像画像情報に基づいて検査対象物kの品質が評価される。
請求項(抜粋):
検査対象物の存在予定箇所に対して照明光を投射する照明手段(2)と、前記照明手段(2)にて照明された前記存在予定箇所での検査対象物の画像を撮像する撮像手段(3)と、前記撮像手段(3)の撮像画像情報に基づいて検査対象物の品質を評価する品質評価手段(100)とが設けられた撮像式の評価装置であって、前記存在予定箇所での検査対象物の画像を、前記撮像手段(3)の撮像面を設定個数に分割した各撮像領域夫々に異なる光学特性で結像させる光学系(KG)が設けられ、前記品質評価手段(100)は、前記撮像手段(3)の分割された各撮像領域での各撮像画像情報に基づいて、前記検査対象物の品質評価を行うように構成されている撮像式の評価装置。
IPC (2件):
G01N 21/85 ,  B07C 5/342
FI (2件):
G01N 21/85 A ,  B07C 5/342
引用特許:
審査官引用 (3件)

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