特許

J-GLOBAL ID：200903047087944958

半導体集積回路の検査系列分割方法及びその検査系列生成方法

発明者： 平岡 敏洋 ,  細川 利典
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-335459
公開番号（公開出願番号）：特開2000-162279
出願日： 1998年11月26日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：

【要約】【課題】 パーシャルスキャン設計又はノンスキャン設計された半導体集積回路において、故障検査系列を容易に分割できるようにする。【解決手段】 検査系列分割工程ST02において、分割パターン数iに基づいて、第1の分割検査系列TP1と第2の分割検査系列TP2との2つの分割検査系列に分割する。次に、第1の分割検査系列出力工程ST03において、第1の分割検査系列TP1にシフトアウトパターンSOを付加し、付加された第1の分割検査系列TP1を出力する。次に、内部状態同定工程ST04において、第1の分割検査系列TP1の分割位置における内部状態Siを同定する。次に、状態遷移パターン作成工程ST05において、検査対象回路の単位系列ごとの内部状態を遷移可能とする状態遷移系列IPを生成し、第2の分割検査系列出力工程ST06において、状態遷移系列IPを第2の分割検査系列TP2の先頭部に付加する。

請求項（抜粋）：

複数のフリップフロップを含む半導体集積回路における前記複数のフリップフロップのうちの一部をスキャン可能とするパーシャルスキャン方式又はいずれをもスキャン可能としないノンスキャン方式を用いて前記半導体集積回路の故障検査を行なう信号列からなる検査系列を分割する半導体集積回路の検査系列分割方法であって、前記検査系列を所定の分割位置で分割することにより、前記検査系列を前方側の第1の分割検査系列と後方側の第2の分割検査系列とに分割する検査系列分割工程と、前記第1の分割検査系列の最後部にシフト動作の終了を表わすシフトアウトパターンを付加するシフトアウトパターン付加工程と、外部入力端子からの複数の入力値の組み合わせ、スキャンを行なうスキャンフリップフロップからの複数の出力値の組み合わせ又はスキャンを行なわない非スキャンフリップフロップからの複数の出力値の組み合わせにより決定される内部状態を、前記第2の分割検査系列が有意となるように同定することにより同定内部状態を決定する同定内部状態決定工程と、前記内部状態を、初期状態から前記同定内部状態となるように、前記外部入力端子又は前記スキャンフリップフロップにデータを割り当てることにより状態正当化を行なう状態正当化工程と、前記初期状態から前記同定内部状態へ遷移するための状態遷移系列を生成する状態遷移系列生成工程と、前記状態遷移系列を前記第2の分割検査系列の先頭部に付加する状態遷移系列付加工程と、前記状態遷移系列が付加された第2の分割検査系列を前記半導体集積回路に入力することにより、少なくとも1つの故障を含む故障集合を検出する故障集合検出工程とを備えていることを特徴とする半導体集積回路の検査系列分割方法。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/3183 ,  G06F 17/50

FI (4件)：

G01R 31/28 G ,  G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 Q ,  G06F 15/60 670 K

Fターム (13件)：

2G032AA07 ,  2G032AB01 ,  2G032AC04 ,  2G032AC08 ,  2G032AE07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE12 ,  2G032AG01 ,  2G032AG10 ,  2G032AL18 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046JA05