適応型試験による光トランシーバの較正

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：古谷聡 , 溝部孝彦 , 西山清春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-007510
公開番号（公開出願番号）：特開2004-222303
出願日： 2004年01月15日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：

【課題】試験装置に接続し、動作パラメタを容易に監視することが可能な光トランシーバを提供すること。【解決手段】試験装置に接続可能な光トランシーバ。この光トランシーバは、少なくとも1つのトランシーバ動作パラメタのレベルを実質的に既知のレベルと等しくするための入力を試験装置から受信するように構成された少なくとも1つの試験装置インタフェースと、少なくとも1つのトランシーバ動作パラメタのレベルを測定するように構成された少なくとも1つのセンサと、トランシーバ動作パラメタのレベルを表す値を出力するように構成されたデータインタフェースと、制御装置とを含む。制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。制御装置は、実際の値と既知の値とを比較することにより判定された複数の置換係数を試験装置からデータインタフェースを介して受信するように構成される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試験装置(44)に接続可能な光トランシーバモジュール(30)であって、少なくとも第1のトランシーバ動作パラメタのレベルを既知の値と実質的に等しくするための入力を試験装置から受信するように構成された少なくとも1つの試験装置インタフェース(48)と、前記第1のトランシーバ動作パラメタのレベルを含む少なくとも1つのトランシーバ動作パラメタのレベルを測定するように構成された少なくとも1つのセンサー(130,132,134,136,138)と、前記第1のトランシーバ動作パラメタのレベルを表す値を出力するように構成されたデータインタフェース(46/86)と、前記トランシーバ動作パラメタのレベルを表わす値を受信し、その値を複数の所定の係数を有する定義済関数を用いて実際の値に変換し、該実際の値を前記データインタフェースを介して前記試験装置へ供給するように構成され、前記実際の値と前記既知の値とを比較することにより判定された複数の置換係数を前記試験装置から前記データインタフェースを介して受信するように構成された、制御装置(36)と、からなる光トランシーバモジュール。

IPC (3件)：

H04B10/08 , H04B17/00 , H04L29/14

FI (3件)：

H04B9/00 K , H04B17/00 K , H04L13/00 315

Fターム (26件)：

5K035AA04 , 5K035BB01 , 5K035DD02 , 5K035GG01 , 5K042CA10 , 5K042CA13 , 5K042DA11 , 5K042EA03 , 5K042FA29 , 5K102AA41 , 5K102AL13 , 5K102LA04 , 5K102LA05 , 5K102LA11 , 5K102MH02 , 5K102MH03 , 5K102MH13 , 5K102MH14 , 5K102MH22 , 5K102MH23 , 5K102MH26 , 5K102PB14 , 5K102PH32 , 5K102RD04 , 5K102RD26 , 5K102RD28

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