特許

J-GLOBAL ID：200903047117669221

多層基板からの放射電磁波解析装置

発明者： 岸本 武士 ,  大津 信一 ,  向井 誠
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 大菅 義之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-255496
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094889
出願日： 1997年09月19日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】【課題】 波源および負荷を流れる電流が電源層とグランド層とに流れ込む状態を定量的に解析できるモデル化手法を確立し、多層基板から放射される電磁波の電磁界強度を正確に算出する。【解決手段】 信号層を流れる電流の分布を分布定数線路近似法または伝送線路解析法によって求める手段1と、手段1によって求められた電流分布に基づいてモーメント法を用いて多層基板全体の電流分布を計算する手段2と、手段2によって計算された多層基板全体の電流分布に基づいて放射される電磁波の電磁界強度を計算する手段3とを備える。

請求項（抜粋）：

多層基板から放射される電磁波を解析する装置において、信号層を流れる電流の電流分布を、分布定数線路近似法または伝送線路解析法によって求める信号層電流分布計算手段と、該信号層電流分布計算手段によって求められた電流分布に基づいて、モーメント法を用いて多層基板全体の電流分布を計算する多層基板電流分布計算手段と、該計算された多層基板全体の電流分布に基づいて、多層基板から放射される電磁波の電磁界強度を計算する電磁界強度計算手段とを備えることを特徴とする多層基板からの放射電磁波解析装置。

IPC (5件)：

G01R 29/08 ,  G06F 17/50 ,  H05K 9/00 ,  G06F 17/00 ,  H05K 3/00

FI (6件)：

G01R 29/08 Z ,  H05K 9/00 Z ,  H05K 3/00 V ,  G06F 15/60 612 ,  G06F 15/60 666 Z ,  G06F 15/20 D