特許
J-GLOBAL ID：200903047184152241
平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-301948
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124661
出願日： 1999年10月25日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：
【要約】【課題】 LCDなどFPDの視野角特性を考慮してFPDを高精度に品位検査することができる平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置を提供する。【解決手段】 平面表示装置2の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサ24でスキャンし、このラインセンサ24によって平面表示装置2の各素子の光量を平面表示装置2の画面2aに対し垂直な方向において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置2の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置2の欠陥を検査する平面表示装置の品位検査装置において、前記ラインセンサ24とは別に、平面表示装置2の前記各素子の光量を平面表示装置2の画面2aに対し垂直な方向(B方向)以外の方向(J方向、K方向)から計測するラインセンサ24a,24bを傾斜可能に設けている。
請求項（抜粋）：
平面表示装置の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサでスキャンし、このラインセンサによって平面表示装置の各素子の光量を平面表示装置の画面に対し垂直な方向において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置の欠陥を検査するにあたり、前記ラインセンサを傾けて平面表示装置の前記各素子の光量を平面表示装置の画面に対し垂直な方向以外の方向からも計測するようにしたことを特徴とする平面表示装置の品位検査方法。
IPC (5件)：
G01M 11/00
, G01N 21/956
, G02F 1/13 101
, G09F 9/00 352
, G09G 3/20 670
G01M 11/00 T
, G01N 21/956 Z
, G02F 1/13 101
, G09F 9/00 352
, G09G 3/20 670 Q
2G051AA73
, 2G051AB06
, 2G051CA03
, 2G051CB02
, 2G051CD05
, 2G051DA07
, 2G086EE10
, 2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088MA20
, 5C080AA10
, 5C080BB05
, 5C080DD15
, 5C080FF09
, 5C080GG02
, 5C080JJ06
, 5G435AA00
, 5G435AA17
, 5G435BB01
, 5G435BB11
, 5G435BB12
, 5G435BB15
, 5G435CC09
, 5G435CC12
, 5G435EE25
, 5G435FF05
, 5G435KK05
, 5G435KK10
