特許

J-GLOBAL ID：200903047230809137

光による計測装置

発明者： 水谷 雄二 ,  高橋 正雄 ,  寺井 清寿
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 木内 光春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-328774
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160365
出願日： 1997年11月28日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】 計測環境の温度状況が厳しくとも、経済的および構造的に優れた計測誤差補正を行い、高精度の計測が可能であり、しかも、絶縁性および誘導ノイズに対する強さを維持できる光による計測装置を提供する。【解決手段】 光学センサ10には、2本の同巻回数の石英ガラス光ファイバ6および鉛ガラス光ファイバ7が導体1を取り囲むようにして設けられている。また、計測ユニット13内の信号処理回路16には光ファイバ6,7の出力差を求める出力差演算部24と、前記出力差に応じて温度の補正係数を選択する補正係数選択部25と、光ファイバ6,7からの出力に対し前記補正係数を乗じて温度による計測誤差を補正する計測誤差補正部26と、出力差および補正係数を記憶する記憶部27とが設けられている。

請求項（抜粋）：

被計測対象物の周囲に直線偏光の光を通過させる光学センサが設けられ、この光学センサからの出力に基づいて被計測対象物の物理量あるいは化学量を計測する光による計測装置において、前記光学センサには温度特性の異なる少なくとも2種類以上の光学素子が設けられ、前記被計測対象物の計測環境における雰囲気温度ごとに前記光学素子同士の出力差を求める出力差演算手段と、前記出力差に応じて温度の補正係数を選択する補正係数選択手段と、前記光学素子からの出力に対し前記補正係数を乗じて計測環境における雰囲気温度による計測誤差を補正する計測誤差補正手段とが設けられたことを特徴とする光による計測装置。

IPC (4件)：

G01R 15/24 ,  G01B 11/00 ,  G01R 19/00 ,  G01R 33/032

FI (4件)：

G01R 15/07 B ,  G01B 11/00 A ,  G01R 19/00 V ,  G01R 33/032