特許
J-GLOBAL ID：200903047293011798
質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-039502
公開番号（公開出願番号）：特開2005-235412
出願日： 2004年02月17日
公開日（公表日）： 2005年09月02日
要約：
【課題】 FT-ICRを用いることなく、高効率でかつ高速なECDを可能にする質量分析技術を提供する。 【解決手段】 電子源12を備え、中心軸に沿って略平行な磁場を印加した2次元結合型イオントラップ部2〜11を用いて、上記課題を解決する。はじめに親イオンをトラップする。2次元結合型イオントラップを採用することにより、入射時、トラップ時に高いイオンの捕捉性能を得ることができる。つづいて、高周波の印加されていない中心軸に沿って、磁場を用いて電子を巻きつけて入射する。このためエネルギー制御された電子をトラップしている親イオン1に到達させることができる。高周波電場による加熱を回避し、高速・高効率なECDが可能な質量分析装置が、FT-ICRを用いることなく実現できる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料のイオンを生成するイオン源と、2次元高周波電場と静電場とからなる2次元高周波イオントラップ電場と磁場を印加する2次元結合型イオントラップおよび電子線を発生する電子源を具備し、前記2次元結合型イオントラップに保持した前記イオンに前記電子線を照射して電子捕獲解離反応を行うための反応セルと、前記反応セル内で生成した解離イオンの質量分析を行なう質量分析部とを具備してなることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J49/42
, G01N27/62
, H01J49/34
H01J49/42
, G01N27/62 K
, G01N27/62 L
, G01N27/62 V
, H01J49/34
5C038JJ02
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ13
