特許
J-GLOBAL ID：200903047318205932
テキスタイル開発管理システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-153764
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337962
出願日： 2000年05月24日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：
【要約】【課題】 過去の開発履歴の参照により、試作見本を入手することができ、重複開発を回避することができるテキスタイル開発管理システムを提供する。【解決手段】 過去の試作テキスタイルの試作見本を分類して保存したサンプルラック(111等)と、試作見本のテキスタイルデータをデータベース化して記憶したテキスタイルデータ記憶手段(23)と、該記憶手段から該当するデータを検索して抽出するために検索情報のキーワードを入力するキーワード入力手段(211等)と、検索情報に基づいて前記記憶手段から合致するデータを検索するテキスタイルデータ検索手段(24)と、検索の結果、合致するデータまたは類似のデータがあったとき、サンプルラック(111等)に保存されている試作見本のうち合致するデータまたは類似のデータの試作見本の管理番号を選択する試作見本選択手段(25)とを備え、サンプルラック(111等)を除き前記各手段がネットワークを介して接続される。
請求項（抜粋）：
過去に試作したテキスタイルの試作見本を保存したサンプルラックと、前記試作見本のテキスタイルデータをデータベース化して記憶したテキスタイルデータ記憶手段と、該テキスタイルデータ記憶手段から該当するテキスタイルデータを検索して抽出するために検索情報のキーワードを入力または選択するキーワード入力手段と、入力または選択された前記検索情報に基づいて前記テキスタイルデータ記憶手段から合致するテキスタイルデータを検索するテキスタイルデータ検索手段と、前記テキスタイルデータ検索手段による検索の結果、合致するテキスタイルデータがあったとき、前記サンプルラックに保存されている試作見本のうち前記合致するテキスタイルデータの試作見本の管理番号を選択する試作見本選択手段とを備えることを特徴とするテキスタイル開発管理システム。
IPC (4件)：
G06F 17/30 170
, D06H 3/00
, G06F 17/50 680
, G06T 1/00 200
G06F 17/30 170 Z
, D06H 3/00
, G06F 17/50 680 G
, G06T 1/00 200 A
3B154AB19
, 3B154CA01
, 3B154CA29
, 3B154CA31
, 3B154DA30
, 5B046AA10
, 5B046CA06
, 5B046KA01
, 5B046KA05
, 5B050CA07
, 5B050CA08
, 5B050FA02
, 5B050FA13
, 5B050FA19
, 5B050GA08
, 5B075ND04
