特許

J-GLOBAL ID：200903047334505750

歪み量測定回路

発明者： 柳 正博
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-268723
公開番号（公開出願番号）：特開平7-120207
出願日： 1993年10月27日
公開日（公表日）： 1995年05月12日
要約：

【要約】【目的】 歪みゲージを用いた歪み量測定回路に関するものであり、低コストで高性能化を目的とするものである。【構成】 交流電源に接続された歪みゲージブリッジ回路1の出力信号を、交流増幅器3を介して互いに独立した2つのサンプルホールド回路4,5に供給し、このサンプルホールド回路4,5で交流増幅器3の出力信号を交流電源電圧の極性に一致するように各半サイクルごとに交互にサンプルホールドし、この2つの出力の差を積分機能を有する差動増幅器6で得るようにして低コストで低ドリフトの歪み量測定回路を実現したものである。

請求項（抜粋）：

交流電源に接続された歪みゲージブリッジ回路の出力信号を、交流増幅器を介して互いに独立した2つのサンプルホールド回路に供給し、このサンプルホールド回路で交流増幅器の出力信号を交流電源電圧の極性に一致するように各半サイクルごとに交互にサンプルホールドし、この2つの出力の差を積分する差動増幅器で得るようにした歪み量測定回路。