特許
J-GLOBAL ID：200903047358168002
被加工物表面の膜厚・膜質予測管理システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-108098
公開番号（公開出願番号）：特開2001-286798
出願日： 2000年04月10日
公開日（公表日）： 2001年10月16日
要約：
【要約】【課題】数少ない基礎的な試験データから、複雑形状部品の膜厚ならびに膜質の予測を精度良く行なうことにある。【解決手段】ガンにより溶射や吹き付け塗装などの粒子を吹き付けて被加工物表面に成膜を形成する施工プロセスにおいて、実際の付着粒子の飛行軌跡の分布データを入力する入力手段1と、この入力手段より入力される分布データに基づいて仮想的に発生させた粒子の軌跡を計算する第1の計算手段2と、この第1の計算手段により求められた個々の仮想粒子の軌跡と被加工物表面との幾何学的関係に基づいて付着量を推定する第2の計算手段3と、この第2の計算手段で求められた付着量をもとに膜圧・膜質を予測して出力する出力手段6とを備える。
請求項（抜粋）：
ガンにより溶射や吹き付け塗装などの粒子を吹き付けて被加工物表面に成膜を形成する施工プロセスにおいて、実際の付着粒子の飛行軌跡の分布データを入力する入力手段と、この入力手段より入力される分布データに基づいて仮想的に発生させた粒子の軌跡を計算する第1の計算手段と、この第1の計算手段により求められた個々の仮想粒子の軌跡と被加工物表面との幾何学的関係に基づいて付着量を推定する第2の計算手段と、この第2の計算手段で求められた付着量をもとに膜圧・膜質を予測して出力する出力手段とを備えたことを特徴とする被加工物表面の膜厚・膜質予測管理システム。
IPC (4件)：
B05B 12/08
, B05C 11/00
, B05D 3/00
, G01B 21/08
B05B 12/08
, B05C 11/00
, B05D 3/00 F
, G01B 21/08
2F069AA47
, 2F069CC10
, 2F069DD15
, 2F069DD16
, 2F069DD30
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG73
, 2F069NN00
, 2F069QQ01
, 4D075AA01
, 4D075AA17
, 4D075AA82
, 4F035AA04
, 4F035BB03
, 4F035BB21
, 4F042BA25
, 4F042DH09
