特許
J-GLOBAL ID：200903047386231453
形状計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-318578
公開番号（公開出願番号）：特開平6-167316
出願日： 1992年11月27日
公開日（公表日）： 1994年06月14日
要約：
【要約】【目的】 本発明は,スポット投影法を用いた3次元形状計測装置による形状計測方法に係り,この計測装置を移動させて複数の測定位置から被測定物の形状計測を行った場合でも,各測定位置で計測した計測データを他の複数の測定位置で計測した計測データと統一した単一の3次元座標軸上に表示し得るようにすること。【構成】 適宜選択された例えば第1,第2の測定位置に関して被測定物上に共通する2個の測定点が設定され,この測定点に向けて第1の測定位置と第2の測定位置からZ軸方向にかかる軸芯を垂直にした状態でそれぞれに設置される計測装置より各別にレーザ光が投光され,各測定位置での座標系で上記測定点に係る位置座標が演算されると共に,座標変換に係る関数が算出される。そして,上記関数に基づいて例えば第2の測定位置における位置座標のデータが第1の測定位置における位置座標のデータに変換される。
請求項（抜粋）：
投光位置から被測定物に向けてスポット光を投光して上記被測定物上に投射されたスポット像を撮像手段で撮像し,上記スポット光の投光角度,上記スポット像の撮像角度及び上記スポット光の投光位置と上記撮像手段による撮像位置との間の距離から被測定物上のスポット像の3軸座標系での位置座標を演算する形状計測方法において,適宜選択された複数の撮像位置に関して共通する任意の2個の測定点を設定し,各撮像位置で上記3軸座標系の内1軸が互いに平行となるように設定した撮像手段により上記2個の測定点をそれぞれ撮像して各撮像位置での座標系で上記測定点に係る位置座標を演算すると共に座標変換に係る関数を算出し,上記関数に基づいて他の撮像位置に於ける位置座標のデータを一の撮像位置における位置座標のデータに変換するようにしたことを特徴とする形状計測方法。
IPC (2件)：
G01B 11/24
, G01B 21/20 101
