特許
J-GLOBAL ID:200903047414861859

表面実装型電子部品の測定治具

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森下 武一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-245502
公開番号(公開出願番号):特開平8-110366
出願日: 1994年10月11日
公開日(公表日): 1996年04月30日
要約:
【要約】【目的】 外部電極の間隔が小さい表面実装型電子部品の電気特性を高周波領域でも安定して正確に測定することができる測定治具を得る。【構成】 導電性プレート3の上面に導通方向が厚み方向である異方性導電ゴムシート20を載置している。導電性プレート3には段付き穴3a,3bが設けられており、この穴3a,3bに同軸ケーブル10,11が挿入されている。同軸ケーブル10,11の芯線12,13の先端は導電性プレート3の上面から若干突出し、異方性導電ゴムシート20に接触している。導電性プレート3はケーブルホルダ6,7を介して同軸ケーブル10,11のシールド線16,17に電気的に接続され、接地されている。
請求項(抜粋):
導電性プレートを備えたケースと、前記導電性プレートに設けた同軸ケーブル用穴に芯線端部が貫通した同軸ケーブルと、前記導電性プレート面に載置された、導通方向が厚み方向である異方性導電ゴムシートとを備え、前記同軸ケーブルの芯線端部が前記異方性導電ゴムシートの所定の部分に接触していること、を特徴とする表面実装型電子部品の測定治具。
IPC (3件):
G01R 31/26 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/28
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平1-296178
  • 特開昭61-187244
  • 特開昭64-007632

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