特許
J-GLOBAL ID：200903047420635585
導体非破壊検査用装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-184014
公開番号（公開出願番号）：特開平11-030607
出願日： 1997年07月09日
公開日（公表日）： 1999年02月02日
要約：
【要約】【課題】 導体からの磁気的な信号を精度よく検出できる導体非破壊検査用装置を提供すること。【解決手段】 銅線Wを送り経路に沿って送る伸線設備10に設けられた導体非破壊検査用装置12では、銅線Wの磁気的な検査が連続的に行われる。送り経路に沿う所定の検査領域42に隣接して、検査領域42における磁界を検出するSQUID44が配置されている。検査領域42に位置する導体の検査部分70には、電流が流れることを阻止するダイス68a,68bが設けられている。このような構成では、銅線Wの検査部分70に電流が流れることが阻止されるので、検査部分70の周囲にはこの電流に起因して誘起される磁界の発生が防止され、バックグラウンドの磁界が低減される。
請求項（抜粋）：
導体を磁気的に検査するための導体非破壊検査用装置において、所定の検査領域における磁界を検出する磁界検出手段と、前記検査領域に置かれた前記導体の検査部分に、電流が流れることを阻止する電流阻止手段と、を備えることを特徴とする導体非破壊検査用装置。
IPC (3件)：
G01N 27/72
, G01N 27/82
, G01R 33/035 ZAA
G01N 27/72
, G01N 27/82
, G01R 33/035 ZAA
