特許
J-GLOBAL ID：200903047441815117
電界検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井出 直孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-065175
公開番号（公開出願番号）：特開平5-267407
出願日： 1992年03月23日
公開日（公表日）： 1993年10月15日
要約：
【要約】【目的】 光パルスサンプリング法による電界測定を手軽に利用するための測定用プローブを備えた構造とする。【構成】 光学的に精密性を要する部分をあらかじめプローブとして堅固な一体的な構造にしておき、このプローブと光源や受光手段が実装された本体装置とを柔軟な光ファイバで接続する。【効果】 プローブを手動で操作して、その先端を被測定電極に接触させて使用するから、微動ステージなどの手間のかかる装置を不要にし、きわめて高速な現象を一般のオシロスコープのように簡便に観測することができ、安定に電界強度を測定できる。
請求項（抜粋）：
偏光子と、波長板と、被測定電界に曝される電気光学素子と、光反射面とが前記の順に光軸上に配列され、前記電気光学素子には電極を備え、光源からの入力光を前記偏光子の光入力面に導く入力用光回路と、前記偏光子の光出力面に現れる出力光を受光手段に導く出力用光回路とを備えた電界検出装置において、前記偏光子、前記波長板、前記電極、前記電気光学素子および前記光反射面は前記電気光学素子がその先端近傍に位置するようにプローブとして一体化され、前記入力用光回路および前記出力用光回路は、前記光源と前記プローブおよび前記プローブと前記受信手段をそれぞれ接続する光ファイバを含み、前記プローブの先端には、被測定電界を発生する物体にその一面を接触させる誘電体層が設けられたことを特徴とする電界検出装置。
引用特許：
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