特許
J-GLOBAL ID：200903047462310457
非破壊劣化診断方法およびその診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-229373
公開番号（公開出願番号）：特開2003-222587
出願日： 2002年08月07日
公開日（公表日）： 2003年08月08日
要約：
【要約】【課題】電機機器に用いられている絶縁材料の劣化の進行度を広範囲にしかも定量的に評価できる非破壊診断方法および装置を提供すること。【解決手段】異なる2種以上のフィルターと、フィルターを通じて取り込まれる光を二次元の画像情報として出力する画像入力装置と、二次元の画像情報に基づいて二次元の吸光度分布を算出する光量測定部と、被測定物のマスターカーブを記憶する記憶部と、マスターカーブと二次元の吸光度分布とに基づいて二次元の吸光度差若しくは二次元の吸光度比を算出する演算部と、算出された吸光度差若しくは吸光度比に基づいて表示を行う表示部と、を有することとする。【効果】簡便な装置を用い、遠隔測定で絶縁材料の劣化度を判定することができる。
請求項（抜粋）：
異なる2種以上のフィルターと、該フィルターを通じて取り込まれる光を二次元の画像情報として出力する画像入力装置と、前記二次元の画像情報に基づいて二次元の吸光度分布を算出する光量測定部と、被測定物のマスターカーブを記憶する記憶部と、前記マスターカーブと前記二次元の吸光度分布とに基づいて二次元の吸光度差若しくは二次元の吸光度比を算出する演算部と、算出された前記吸光度差若しくは前記吸光度比に基づいて表示を行う表示部と、を有する非破壊劣化診断装置。
Fターム (15件)：
2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059BB15
, 2G059EE02
, 2G059EE11
, 2G059EE13
, 2G059FF01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ11
, 2G059KK04
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059PP04
