特許
J-GLOBAL ID：200903047477177117
微小径測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-107668
公開番号（公開出願番号）：特開平6-294619
出願日： 1993年04月09日
公開日（公表日）： 1994年10月21日
要約：
【要約】【目的】 顕微鏡による拡大像を用いて線引きダイスおよびこれにより引抜かれた線の径を精密測定する微小径測定装置を提供することを目的とする。【構成】 線引きダイス15またはこれにより引抜かれた線の拡大像を得る顕微鏡1、顕微鏡1の拡大像を撮像するCCDカメラ3、カメラ3の出力をディジタル化しエッジ座標検出を行ってダイス径や線径を演算する画像処理装置4、顕微鏡1の照明光量および照明開口絞りを自動調整する顕微鏡制御装置2、およびシステム制御装置5を備え、システム制御装置5は、予備設定された顕微鏡の照明光量および照明開口絞りの開口数の最適値、および実測による線引きダイスの孔径と線の線径との相関式を記憶する記憶装置を有し、この記憶装置に基づいて顕微鏡制御装置2を最適制御すると共に、測定された孔径または線径の一方の値に基づいて他方の値を予測する演算部を有する。
請求項（抜粋）：
線引きダイスおよびこれにより引抜かれた線の径を測定する微小径測定装置であって、線引きダイスまたはこれにより引抜かれた線の拡大像を得る顕微鏡と、この顕微鏡の拡大像を撮像する撮像装置と、この撮像装置の出力信号をディジタル化しエッジ座標検出を行って前記線引きダイスの孔径または引抜かれた線の線径を演算する画像処理手段と、前記顕微鏡の照明光の光量および照明開口絞りを自動調整する顕微鏡制御手段と、測定すべき孔径および線径のそれぞれに適する顕微鏡の照明光の光量および照明開口絞りの開口数の最適値、および線引きダイスの実測された孔径とその線引きダイスにより引抜かれた線の実測された線径との相関式を記憶する記憶装置を有し、測定すべき寸法値を入力することにより前記記憶装置のデータに基づいて前記顕微鏡制御手段を最適制御すると共に、前記画像処理手段により得られた線引きダイスの孔径またはこれにより引抜かれた線の線径の一方の測定値から他方の測定値を予測する演算部を有するシステム制御手段と、を備えたことを特徴とする微小径測定装置。
IPC (4件)：
G01B 11/08
, G01B 9/04
, G06F 15/62 400
, G06F 15/64 325
