特許

J-GLOBAL ID：200903047505084561

テストキャリア分析システムにおけるアナログ光学測定信号の検出および評価方法

発明者： エドガー バウマン ,  ウルフガング オーバーマイヤー ,  カール ヴェルナー
出願人/特許権者： ベーリンガー・マンハイム・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
代理人 (1件)： 朝日奈 宗太 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146866
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167786
出願日： 1994年06月28日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：

【要約】【目的】 テストキャリア分析システムにてアナログ光信号を検出および評価するとき、二次光や遮光による干渉を排除して開放系で行なうことができる分析法を提供する。【構成】 テストキャリア分析装置において該分析装置にホルダによって保持されたテストキャリアのテスト領域は、入光相と遮光相にクロックされた光源によって照射され、テスト領域で反射された光は受光器によって検出され、そして該測定値は評価のために測定値積分化およびデジタル化回路に送られ、そしてそこで、クロックされた光源の複数の入光相および遮光相からなる測定期間にわたり、該測定値が各入光相の少なくとも一部にわたっておよび各遮光相の少なくとも一部にわたって積分され、そして合計積分値が測定値積分化およびデジタル化回路において入光相および遮光相の積分値から形成される方法において、測定期間中の該入光相および該遮光相が、その周波数スペクトルが多数の異なった周波数からなる不規則なシーケンスを形成することを特徴とする方法。

請求項（抜粋）：

テストキャリア分析装置においてアナログ光学測定信号を検出および評価する方法であって、該分析装置にホルダによって保持されたテストキャリアのテスト領域は、入光相と遮光相にクロックされた光源によって照射され、テスト領域で反射された光は受光器によって検出され、そして該測定値は評価のために測定値積分化およびデジタル化回路に送られ、そしてそこで、クロックされた光源の複数の入光相および遮光相からなる測定期間にわたり、該測定値が各入光相の少なくとも一部にわたっておよび各遮光相の少なくとも一部にわたって積分され、そして合計積分値が測定値積分化およびデジタル化回路において入光相および遮光相の積分値から形成される方法において、測定期間中の該入光相および該遮光相が、その周波数スペクトルが多数の異なった周波数からなる不規則なシーケンスを形成することを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01N 21/77 ,  G01J 1/42 ,  G01N 21/27 ,  G01N 33/52

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭62-028644
  
• 特公昭60-024411
  
• 特公昭59-025449
  
• 特開平2-209835
  
• 特開昭58-113837