特許

J-GLOBAL ID：200903047524312559

試料媒体にある標的粒子の所定の特性を決定するための方法および装置

発明者： クラウズ ザイデル ,  レイフ ブランド ,  ロルフ ガンゼール
出願人/特許権者： マックス-プランク-ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デァ ヴィッセンシャフテン エー.フォオ.,ベルリン ,  エボテック バイオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト
代理人 (1件)： 井ノ口 壽
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-524281
公開番号（公開出願番号）：特表2001-509255
出願日： 1997年11月26日
公開日（公表日）： 2001年07月10日
要約：

【要約】蛍光相関分光分析法の応用分野を広げる方法または装置を提供する。前記装置は共焦光学構造体,パルス状のレーザー(20)および時間相関した一光子計数の信号を測定する検出(8)および判定(27)の要素を有する。検出した光子のそれぞれに対して、検出時間をマイクロ秒で記録し、また蛍光遅延時間をナノ秒で記録するようにしてデータを記録する。各検出した光子に関するこのような最大限の情報を用いて、時間相関した一光子計数により決定したパラメータを各検出した光子に割り当て、そこから発生した検出したパラメータに対しての相関関数を作る。次いでパラメータの相関関数または選択的な相関関数,例えば蛍光燃焼寿命の相関関数を得る。また、方法または装置を使用して、個々の分子を検出し個々の存在する粒子に割り当てられたそれらの信号区分のみの相関関数を計算することで、極めて希薄な溶液におけるS/N比を改善できる。

請求項（抜粋）：

試料媒体の標的粒子の所定の特性を決定する方法であって、 a)試料媒体を所定の周期をもつ周期的に変調した光で照射し、 b)試料媒体に散乱した個々の光子形の光を検出装置で検出し、 c)ここにおいて、各光子の検出時間とそれと関連した照射光の周期内の基準時間との時間間隔を決定して遅延時間として規定し、 d)各光子の遅延時間を決定しさらに各光子の検出時間も決定し、そして e)検出した光子の遅延時間を使用して散乱した光の少なくとも1つのパラメータを決定する試料媒体の標的粒子の所定の特性を決定する方法において、 e’)近接して連続する光子のそれぞれの番号に前記遅延時間を用いて前記少なくとも1つのパラメータを決定し、 f)前記近接して連続する光子のそれぞれの番号に前記検出時間を用いて時間値を決定し、 g)前記近接して連続する検出した光子のそれぞれの番号の前記少なくとも1つのパラメータと前記時間値を用いて少なくとも1組のパラメータと時間値を決定し、 h)複数の連続した番号の前記パラメータと時間値の組から少なくとも1つのパラメータ-時間関数を決定し、 i)前記少なくとも1つのパラメータ-時間関数の相関関数を計算し、そして j)前記相関関数を用いることで前記標的粒子の所定の特性を決定することを特徴とする試料媒体の標的粒子の所定の特性を決定する方法。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01N 15/14

FI (2件)：

G01N 21/64 B ,  G01N 15/14 D

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 蛍光寿命測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-214854   出願人：株式会社堀場製作所
• 特開平3-015745
  
• 特開平2-238371