特許

J-GLOBAL ID：200903047532303020

物体の表面形状計測方法及び自動溶接装置

発明者： 柴田 信雄 ,  今永 昭慈 ,  羽田 光明 ,  関 辰郎 ,  佐藤 登志美
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-004545
公開番号（公開出願番号）：特開2004-219154
出願日： 2003年01月10日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：

【課題】光切断法に基づく物体の表面形状計測方法について、像光切断像の明るさ問題とスリット状光線の多重反射問題をともに効果的に解消する。【解決手段】物体Mにスリット状光線を照射し、それによる光切断像を撮像手段で撮像して物体の表面形状を計測するようになっている表面形状計測方法について、スリット状光線として、第1のスリット状光線7と第2のスリット状光線9を用いるものとし、第1のスリット状光線は、基準垂直面11に対し一方に傾いた第1の照射角度θ1で、第1の位置12から照射し、第2のスリット状光線は、基準垂直面に対し第1のスリット状光線とは逆の方向に傾いた第2の照射角度θ2で、第2の位置13から照射するようにした。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

物体にスリット状光線を照射するとともに、前記スリット状光線が前記物体の表面に形成する光切断像を撮像手段で撮像し、そしてこの撮像で得られる画像を処理することにより前記物体の表面形状を計測するようになっている物体の表面形状計測方法において、 前記スリット状光線として、第1のスリット状光線と第2のスリット状光線を用いるものとし、前記第1のスリット状光線は、前記物体に設定した基準垂直面に対し一方に傾いた第1の照射角度で、第1の位置から照射し、前記第2のスリット状光線は、前記基準垂直面に対し前記第1のスリット状光線とは逆の方向に傾いた第2の照射角度で、前記第1のスリット状光線による第1の光切断像とは重ならない第2の光切断像を形成できる第2の位置から照射するようにしたことを特徴とする物体の表面形状計測方法。

IPC (4件)：

G01B11/24 ,  B23K9/095 ,  B23K9/127 ,  G06T1/00

FI (6件)：

G01B11/24 A ,  B23K9/095 501A ,  B23K9/127 508E ,  G06T1/00 300 ,  G06T1/00 400C ,  G01B11/24 K

Fターム (22件)：

2F065AA15 ,  2F065BB13 ,  2F065CC15 ,  2F065DD05 ,  2F065DD12 ,  2F065GG16 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ29 ,  2F065TT08 ,  5B047AA07 ,  5B047BC11 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02