特許
J-GLOBAL ID：200903047550394334
LIBS分光学測定による材料の原子成分定量分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 信一 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-538221
公開番号（公開出願番号）：特表2002-507741
出願日： 1999年03月18日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：
【要約】【課題】測定システムの較正を用いることなしに、固体、液体、および、空気サンプル内原子成分濃度決定を可能にするLIBS技法に基づく方法を提供する。【解決手段】(a)少なくとも1つの種の放出された放射のプラズマ温度(T)を求めるステプと、(b)各々の種のプラズマ温度において放出された放射の分配関数U(T)を決定するステップと、(c)推定された実験係数(F)を用いて各々の種の濃度値を算定するステップと、(d)個別化されない各々の種の濃度値をサハ方程式によって算定するステップと、(e)対応する種の濃度の合計として原子成分の濃度を算定するステップと、(f)正規化によって実験係数を除去することにより成分濃度を測定するステップとを含む構成とする。
請求項（抜粋）：
a)電子放射源によって励起かつイオン化されたサンプルにより放出された放射をLIBS技法に従って分光分析するステップと、 b)放出された放射を定性分析するステップと、 c)放出された放射の較正なしに定性分析するステップとを含む ことを特徴とする固体または液体または気体材料の原子成分濃度を定量測定する方法。
Fターム (19件)：
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043CA03
, 2G043CA05
, 2G043EA10
, 2G043FA01
, 2G043GA07
, 2G043GA08
, 2G043GB19
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA01
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA01
