特許

J-GLOBAL ID：200903047559467989

LCDパネルの検査方法

発明者： 藤田 日出人 ,  井畑 一男 ,  浅野 昌和 ,  南浦 清隆 ,  今井 清正
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-098959
公開番号（公開出願番号）：特開平9-288037
出願日： 1996年04月19日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：

【要約】【課題】 この発明は、偽の点欠陥を点欠陥として誤検出するといったことが防止できるLCDパネルの検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 LCDパネルの濃淡画像に対して、第1しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第1の2値化画像から点欠陥、線欠陥および面欠陥のうち、面欠陥のみが得られるような第1画像を生成する第1ステップ、LCDパネルの濃淡画像に対して、第1しきい値に比べて欠陥が抽出されにくい第2しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第2の2値化画像と上記第1画像とに基づいて、線欠陥のみが得られるような第2画像を生成する第2ステップ、LCDパネルの濃淡画像に対して、第2しきい値に比べて欠陥が抽出されにくい第3しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第3の2値化画像と上記第1画像と上記第2画像とに基づいて、点欠陥のみが得られるような第3画像を生成する第3ステップを備えている。

請求項（抜粋）：

LCDパネルの濃淡画像に対して、第1しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第1の2値化画像から点欠陥、線欠陥および面欠陥のうち、面欠陥のみが得られるような第1画像を生成する第1ステップ、LCDパネルの濃淡画像に対して、第1しきい値に比べて欠陥が抽出されにくい第2しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第2の2値化画像と上記第1画像とに基づいて、線欠陥のみが得られるような第2画像を生成する第2ステップ、LCDパネルの濃淡画像に対して、第2しきい値に比べて欠陥が抽出されにくい第3しきい値を用いて2値化処理を行い、得られた第3の2値化画像と上記第1画像と上記第2画像とに基づいて、点欠陥のみが得られるような第3画像を生成する第3ステップ、ならびに第3画像に基づいて、点欠陥を抽出する第4ステップ、を備えているLCDパネルの検査方法。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09G 3/36

FI (3件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101 ,  G09G 3/36