特許
J-GLOBAL ID：200903047564425976

放射線診断装置

発明者：
本田 道隆

本田 道隆 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-326993
公開番号（公開出願番号）：特開2000-139891
出願日： 1998年11月17日
公開日（公表日）： 2000年05月23日
要約：
【要約】【課題】 異なるエネルギーの放射線で撮像を行う放射線診断装置において、S/N比を劣化させることなく、被検体の動きによるアーチファクト、検出器内部構造影によるアーチファクトの発生を防止する。【解決手段】 X線診断装置10は、被検体2に対してX線を曝射するX線発生装置1と、被検体2を挟んでX線発生装置1と対向配置されてX線を検出する検出器(以下、「アレイ検出器」と称する)3と、このアレイ検出器3のX線発生装置1側に取り付けられX線の線質を変換する線質変換シート4と、アレイ検出器3からのデータに基づいて画像処理を行う画像処理装置5と、この画像処理装置によって再構成された画像を表示する表示装置9とから概略構成される。
請求項（抜粋）：
被検体に対して放射線を曝射する放射線発生源と、前記被検体を挟んで前記放射線発生源と対向配置され、該放射線発生源からの放射線を検出しデータを出力する検出素子と、前記検出素子を、格子状に多数配列して形成される検出器と、前記放射線をそれぞれ異なる所定の率で減衰させる複数種の減衰素子を所定のパターンで配列させて形成されるシート部材とを有し、前記複数の減衰素子でそれぞれ減衰された異なるエネルギーの放射線を、各減衰素子に対応する前記複数の検出素子でそれぞれ検出し、各減衰素子の減衰率に基づいて画像を再構成することを特徴とする放射線診断装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 333 ,  A61B 6/00 300 ,  H04N 5/325
FI (3件)：
A61B 6/00 333 ,  A61B 6/00 300 J ,  A61B 6/00 350 S
Fターム (13件)：
4C093AA30 ,  4C093CA06 ,  4C093CA13 ,  4C093DA03 ,  4C093EA11 ,  4C093EB17 ,  4C093EB30 ,  4C093EE08 ,  4C093FD01 ,  4C093FD11 ,  4C093FD12 ,  4C093FF34 ,  4C093FH02
引用特許：
審査官引用 (5件)
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