特許
J-GLOBAL ID:200903047601334196
光反射性物体表面の点の座標を測定する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
泉名 謙治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-276761
公開番号(公開出願番号):特開平5-087521
出願日: 1991年09月27日
公開日(公表日): 1993年04月06日
要約:
【要約】【目的】簡単な設備で光反射性物体表面の特定点の座標を非接触に得る。【構成】光反射性物体表面の特定点近傍で反射した点状散乱光源からの光を2台のTVカメラで受光し、仮定されたz座標、光源位置の座標、受光位置の座標、受光時の視線方向から反射の法線方向と、反射点のx,y座標をそれぞれ求め、2台のテレビ、カメラでの値が等しくなるように、z座標、視線方向を修正することにより、反射点の座標を求める。
請求項(抜粋):
位置が既知の散乱光源から光反射性物体表面に、光が照射され、次いで反射される場合の、その反射光の受光位置の座標と受光時の光の入射方向とを知ることにより、該光反射性物体上での光反射点の座標を決定し、光反射性物体表面の点の座標を測定する方法であって、前記光反射点の座標は、以下の(a)〜(f)の段階を経て決定されることを特徴とする光反射性物体表面の点の座標を測定する方法。(a)x-y平面及びそのx-y平面に垂直なz軸を仮定する段階。(b)光線が被測定物の表面上の特定位置近傍で反射するような受光位置と受光される光の入射方向との組み合せを、複数個、選択する段階。(c)前記特定位置のz座標を仮定する段階。(d)それぞれの組み合せにおいて、c段階で仮定されたz座標、光源位置の座標、受光位置の座標、及び受光される光の入射方向から前記特定位置のx、y座標、及び光反射の法線方向を演算する段階。(e)前記x、y座標及び光反射の法線方向についての、それぞれの組み合せ間の差が所定の値よりも小さくなるまで、z座標の値もしくは受光される光の入射方向を修正する段階。(f)e段階を経て定まったx、y座標及びz座標の値をもって、前記光反射点の座標とする段階。
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