特許
J-GLOBAL ID：200903047601344345
四重極質量分析計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-035951
公開番号（公開出願番号）：特開平5-036376
出願日： 1991年03月01日
公開日（公表日）： 1993年02月12日
要約：
【要約】【目的】試料中に共存する高質量数のイオンによる妨害を受けることなく低質量数のイオンを正確に測定できるようにした四重極質量分析計を提供する。【構成】四重極質量分析計において、イオン源と、該イオン源から導かれたイオンを収束する第1のイオンレンズと、第1の四重極マスフィルタと、該第1四重極マスフィルタを通過したイオンを収束する第2のイオンレンズと、第2四重極マスフィルタとを設け、第1イオンレンズで収束されたイオンが第1四重極マスフィルタを通過し、その後、第2イオンレンズで収束されてのち第2四重極マスフィルタを通過するようにしたもの。
請求項（抜粋）：
イオン源と、該イオン源から導かれたイオンを収束する第1のイオンレンズと、第1の四重極マスフィルタと、該第1四重極マスフィルタを通過したイオンを収束する第2のイオンレンズと、第2四重極マスフィルタとを具備し、前記第1イオンレンズで収束されたイオンが第1四重極マスフィルタを通過し、その後、前記第2イオンレンズで収束されてのち第2四重極マスフィルタを通過することを特徴とする四重極質量分析計。
IPC (2件)：
引用特許：
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