特許

J-GLOBAL ID：200903047624866152

ガス分析方法とその装置

発明者： ユルゲン・カニツ ,  フランク・ファウ・ミュンショヴ-ポール
出願人/特許権者： インスティトウト・フレゼニイウス・ヘミッシエ・ウント・ビオロジィッシエ・ラボラトリエン・ゲ.エム.ベ.ハ.
代理人 (1件)： 小川 信一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-087064
公開番号（公開出願番号）：特開平5-249040
出願日： 1992年04月08日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 簡単で精度の良い光学的ガス分析法とその装置を提供する。【構成】 一定の第一のガス圧力下で第一の測定を行ない、次いで前記ガス圧力を変えて実質的に一定の第二のガス圧力下で、かつ同一の測定操作で第二の測定を行ない、測定した強度の比率またはその差から検出されるべき物質の濃度を、透過強度と前記物質の容積濃度との間の理論的関係にもとづき、コンピューターまたは前記ガスのグラフを用いて確認する。【効果】 測定容器を替えたり、ガスを標準ガスまたはキャリブレーションガスと代える必要がない。従って、一連の誤差、特に容器を交換するにつれて窓が次第に汚れたり、温度が変化するにつれて、かつ時間の経過につれてのエミッターやディテクターの汚れのような測定の背景の長い間の変化によって引き起こされる誤差の原因が同時に除去される。

請求項（抜粋）：

電磁波照射によって、かつ検出されるべき物質に特徴的である波長を有する透過した電磁波の強度の測定によってガス中の前記物質の濃度を決定するための、前記物質を含むガスを少なくとも二つの異なるガス圧力値において測定する方法であり、実質的に一定の第一のガス圧力下で第一の測定を行ない、次いで前記ガス圧力を変えて実質的に一定の第二のガス圧力下で、かつ同一の測定操作で第二の測定を行ない、測定した強度の比率またはその差から検出されるべき物質の濃度を、透過強度と前記物質の容積濃度との間の理論的関係にもとづき、コンピューターまたは前記ガスのグラフを用いて確認することを特徴とするガス分析方法。

IPC (2件)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/35

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-124934
  
• 特開昭59-182336
  
• 特許第4163899号
  
• 特許第4500207号