特許

J-GLOBAL ID：200903047676986822

変調精度測定装置、デジタル変調用IC及び測定方法

発明者： 梛 勝利
出願人/特許権者： ローム株式会社
代理人 (1件)： 佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-178930
公開番号（公開出願番号）：特開平10-023088
出願日： 1996年07月09日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：

【要約】【課題】 デジタル変調信号の変調精度を測定する変調精度測定装置において、変調器にコヒーレントキャリアを生成する回路を設けなくても変調精度を測定することができるようにする。【解決手段】 デジタル変調信号のコヒーレントキャリアを使用することによって前記デジタル変調信号の変調精度を測定する変調精度測定装置に、PLL20を設ける。PLL20に基準信号を入力する。正の整数k1及びk2に基づき、前記基準信号の周波数のk2/k1倍の周波数の信号がPLL20で生成される。PLL20で生成される信号を前記デジタル変調信号のコヒーレントキャリアとして使用する。これにより、デジタル変調信号の変調精度が測定される。

請求項（抜粋）：

デジタル変調信号のコヒーレントキャリアを使用することによって前記デジタル変調信号の変調精度を測定する変調精度測定装置において、PLLを設け、前記PLLに基準信号を入力することにより、正の整数k1及びk2に基づき、前記基準信号の周波数のk2/k1倍の周波数の信号が前記PLLで生成され、前記PLLで生成される信号を前記デジタル変調信号のコヒーレントキャリアとして使用することを特徴とする変調精度測定装置。

IPC (4件)：

H04L 27/18 ,  G01R 29/06 ,  H03L 7/08 ,  H04B 17/00

FI (6件)：

H04L 27/18 A ,  G01R 29/06 C ,  H04B 17/00 M ,  H04B 17/00 D ,  H04B 17/00 K ,  H03L 7/08 M