特許

J-GLOBAL ID：200903047684728077

分光分析計における多変量解析方法

発明者： 神崎 豊樹 ,  横山 一成 ,  小島 淳二
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-335952
公開番号（公開出願番号）：特開平9-152399
出願日： 1995年11月29日
公開日（公表日）： 1997年06月10日
要約：

【要約】【課題】 親機に基づいて子機を得る場合に子機を得る場合、変量の測定精度に優れ、データの移し替えなどに時間がかからないようにした分光分析計における多変量解析方法を提供すること。【解決手段】 校正行列が既知である分光分析計(親機)と、この親機によって得られるスペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが得られ、校正行列が未知である分光分析計(子機)があるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペクトル群を演算によって求め、この演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することにより変量を得るようにしている。

請求項（抜粋）：

校正行列が既知である分光分析計(以下、親機という)と、この親機によって得られるスペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが得られ、校正行列が未知である分光分析計(以下、子機という)があるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペクトル群を演算によって求め、この演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することにより変量を得るようにしたことを特徴とする分光分析計における多変量解析方法。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/02

FI (2件)：

G01N 21/27 F ,  G01J 3/02 C

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 近赤外分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-294566   出願人：井関農機株式会社