アクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：佐野静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-186637
公開番号（公開出願番号）：特開平11-030790
出願日： 1997年07月11日
公開日（公表日）： 1999年02月02日
要約：

【要約】【課題】液晶パネルのデータ線における局所的高抵抗領域を簡単に検出する検査方法を提供する。【解決手段】液晶パネルの走査線1に供給する走査信号22、23のパルス幅を狭くしたり、複数の走査線1を共通線1を共通接続して走査線群に生じる容量を増加させ、時定数を大きく設定して信号線2に供給する検査信号21の書き込み条件を厳しく設定し、データ線2上の局所的高抵抗領域より後方の画素への書き込みを不足させるようにして、この領域の画素の透過率を他の領域の画素の透過率と相違させ、透過率の相違より上記局所的高抵抗領域の検出を行なうようにする。

請求項（抜粋）：

絶縁性基板上に走査線とデータ線を絶縁層を介してマトリックス状に形成し、上記走査線とデータ線の各交点に上記走査線に印加される走査信号によって開閉が制御されるスイッチング素子を設けるとともに、上記各スイッチング素子に対応して上記データ線より供給されるデータ信号が、対応するスイッチング素子を介して供給される画素電極を設けたアクティブ基板と、該アクティブ基板に対向配置し、透明絶縁性基板上に透明電極を形成した対向基板を設け、上記アクティブ基板と対向基板間に配向層と液晶層を形成したアクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法であって、上記データ線に供給する第1のパルス信号を上記走査線に供給する第2のパルス信号により、液晶パネルの各画素へ書き込む書き込み条件を厳しく設定し、データ線上の局所的高抵抗領域より上記第1のパルス信号の供給方向に対して後方に位置する画素への書き込みを不足させ、上記局所的高抵抗領域より後方に位置する画素の透過率と他の領域の画素の透過率を相違させて、データ線の高抵抗領域を上記透過率の差より検出するようにしたことを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法。

IPC (5件)：

G02F 1/136 500 , G01R 31/00 , G02F 1/133 550 , G09F 9/00 352 , G09F 9/35 305

FI (5件)：

G02F 1/136 500 , G01R 31/00 , G02F 1/133 550 , G09F 9/00 352 , G09F 9/35 305

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