特許

J-GLOBAL ID：200903047791775738

画素欠陥検出装置

発明者： 高山 幸治
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-157289
公開番号（公開出願番号）：特開平11-355666
出願日： 1998年06月05日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：

【要約】【課題】 固体撮像素子の画質を著しく低下させる、画素欠陥の検出において、ノイズに埋もれた微小白キズを温度上昇させ検出するのと同じ検出精度を実現し、常温下において誤動作の少ない画素欠陥検出方法を提供することを目的とする。【解決手段】 完全遮光状態での光電変換領域21で発生した画素欠陥である白キズを、通常動作周期のn倍の読み出し周期であるnフィールド毎に読み出し電極22に読み出しパルスを印加し、垂直転送領域23に読み出すことで、常温での微小な白キズはn倍のレベルまで増幅することになり、隣接画素信号比較器34を通すことで、固体撮像素子の温度を上昇させた時と同じ検出精度を得ることができる。

請求項（抜粋）：

光学信号を電気信号に変換する固体撮像素子と、前記固体撮像素子に入射される入射光を所定期間遮断する入射光制限手段と、前記固体撮像素子からの信号読み出しタイミングを制御する読み出しパルス制限手段と、前記読み出しパルス制限手段で制御された前記固体撮像素子から出力される所定画素と周囲画素の信号レベルを比較する隣接画素信号比較手段とを備えたことを特徴とする画素欠陥検出装置。