X線装置において検査対象の作成された画像からビームハードニングアーチファクトを低減する方法およびコンピュータ断層撮影装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-045228
公開番号（公開出願番号）：特開2006-231058
出願日： 2006年02月22日
公開日（公表日）： 2006年09月07日
要約：

【課題】検査対象の作成された画像からビームハードニングアーチファクトの効率のよい低減を可能にする。【解決手段】X線が発生され、異なる投影方向から検査対象を透過するX線の減弱に依存する測定値(4,5)が、多数の検出器要素から構成されている検出器によって検出される、X線装置における検査対象の作成された画像内のビームハードニングアーチファクトの低減方法において、各検出器要素において、投影方向ごとにN個の異なるX線エネルギー範囲に関するN個の測定値(4,5)が検出され(N>=2)、各検出器要素において、検出されたN個の測定値(4,5)からそれぞれ1つの擬似単色測定値(8)が求められ、検出器要素のこのようにして求められた擬似単色測定値から、ビームハードニングアーチファクトがほぼ抑制されている画像が再構成される。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

X線が発生され、異なる投影方向から検査対象を透過するX線の減弱に依存する測定値(4,5)が、多数の検出器要素から構成されている検出器(2)によって検出される、X線装置における検査対象(16)の作成された画像内のビームハードニングアーチファクトの低減方法において、 a)各検出器要素(3)において、投影方向ごとにN個(N≧2)の異なるX線エネルギー範囲に関するN個の測定値(4,5)が検出され、 b)各検出器要素(3)において、検出されたN個の測定値(4,5)からそれぞれ1つの擬似単色測定値(8)が求められ、 c)検出器要素(3)のこのようにして求められた擬似単色測定値から、ビームハードニングアーチファクトがほぼ抑制されている画像が再構成されることを特徴とするX線装置における検査対象の作成された画像内のビームハードニングアーチファクトの低減方法。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (3件)：

A61B6/03 350J , A61B6/03 320R , A61B6/03 373

Fターム (8件)：

4C093AA22 , 4C093CA13 , 4C093EA07 , 4C093EB13 , 4C093EB28 , 4C093FC24 , 4C093FD07 , 4C093FD12

引用特許：

出願人引用 (1件)

独国特許出願公開第10356116号明細書

前のページに戻る