特許

J-GLOBAL ID：200903047851504100

透明フィルム外観検査システム

発明者： 峠山 裕彦
出願人/特許権者： パナソニック電工株式会社
代理人 (3件)： 板谷 康夫 ,  田口 勝美 ,  水田 愼一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-221897
公開番号（公開出願番号）：特開2009-053122
出願日： 2007年08月28日
公開日（公表日）： 2009年03月12日
要約：

【課題】透明フィルム外観検査システムにおいて、簡単な構成により、透明フィルムや半透明フィルムにおける目視による発見が困難な欠陥に対し、その欠陥場所やその他情報を効率よく人に認識させることができるようにする。【解決手段】外観検査システム1は、巻出し搬送される透明な帯状フィルム2の外観検査を行うシステムであり、フィルム2の巻出し搬送を行うフィルム搬送機構3と、フィルム搬送中にフィルム2の外観を撮像する撮像部4と、撮像した画像を処理してフィルム2の欠陥を検出する欠陥検出部5と、検出された欠陥データを記憶する欠陥データ記憶部6と、記憶された欠陥データを提示する欠陥提示部7と、を備える。欠陥提示部7は、巻出し搬送されるフィルム2の欠陥位置に対応して当該フィルム2の背面側に欠陥データを提示する。検査作業員は、リアルタイムで現物のフィルム上において、システム1が外観検査した結果を確認できる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

巻出し搬送される透明な帯状フィルムの外観検査システムにおいて、 フィルムの巻出し搬送を行うフィルム搬送機構と、 前記フィルム搬送機構によるフィルム搬送中にフィルム外観を撮像する撮像部と、 前記撮像部によって撮像した画像を処理してフィルムの欠陥を検出する欠陥検出部と、 前記欠陥検出部により検出された欠陥データを記憶する欠陥データ記憶部と、 前記欠陥データ記憶部に記憶された欠陥データを提示する欠陥提示部と、を備え、 前記欠陥提示部は、前記フィルム搬送機構によって巻出し搬送されるフィルムの欠陥位置に対応して当該フィルムの背面側に前記欠陥データを提示することを特徴とする透明フィルム外観検査システム。

IPC (2件)：

G01N 21/892 ,  G01B 11/30

FI (2件)：

G01N21/892 A ,  G01B11/30 A

Fターム (27件)：

2F065AA03 ,  2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065BB13 ,  2F065BB22 ,  2F065BB23 ,  2F065CC02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065FF64 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ25 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ23 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2F065SS14 ,  2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA11 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051DA15 ,  2G051EA14 ,  2G051FA01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表面検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-316863   出願人：株式会社東芝, 川崎製鉄株式会社