特許
J-GLOBAL ID：200903047881315043
赤外線水分測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-003031
公開番号（公開出願番号）：特開平5-187997
出願日： 1992年01月10日
公開日（公表日）： 1993年07月27日
要約：
【要約】【目的】赤外線水分測定装置における検量線の式を回帰分析により自動設定するときに、測定原理に合った適正なを回帰式を得る。【構成】吸光度と実測水分値のサンプルデータから回帰分析によって一次から三次までの回帰式を演算する。各回帰式のF検定を行なってサンプルデータに応じた次数の存在の有無を調べる。F検定で存在する次数の回帰式の単調増加関数であるか否かの判定を行なう。単調増加関数で最高次の回帰式を検量線の式として設定する。
請求項（抜粋）：
赤外線の吸光度と水分値との関係を示す検量線の式が設定可能であって、試料に照射した赤外線の該試料による吸光度と上記検量線の式とに基づいて試料の水分値を測定するようにした赤外線水分測定装置において、前記吸光度と該吸光度を示す試料の実測水分値との複数のサンプルデータに基づいて吸光度と水分値との関係を示す一次から高次までの回帰式を求める回帰式演算手段と、前記サンプルデータに対する前記回帰式の適否を検定して適正な回帰式を選別する検定手段と、前記回帰式が吸光度に対して単調増加関数となるかを判定する単調増加性判定手段と、前記回帰式演算手段で求められた回帰式のうちサンプルデータに対して適正な回帰式であって最高次でかつ吸光度に対して単調増加関数となる回帰式を前記検量線の式として設定する検量線設定手段、とを備えたことを特徴とする赤外線水分測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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