特許
J-GLOBAL ID：200903047911084670
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-183939
公開番号（公開出願番号）：特開平5-011173
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年01月19日
要約：
【要約】【目的】 遠距離側の測距精度を更に向上させることが可能となる。【構成】 第1及び第2の受光手段1,2及び3を、基線長方向に一列に配置すると共に、遠距離に位置する測距対象物を測距する場合は第2の受光手段を選択し、前記遠距離よりも近距離側に位置する測距対象物を測距する場合には第1の受光手段を選択する選択手段を設け、第1及び第2の受光手段を、測距対象物での反射光の全てを受光できるように、基線長方向に一列に配置し、測距対象物が遠距離に位置する場合には、遠距離側専用の第2の受光手段を用いて測距を行うようにしている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ信号光を投射する投光手段と、該投光手段よりの測距対象物での反射光を受光する第1及び第2の受光手段と、選択される第1或は第2の受光手段よりの信号に基づいて測距情報を算出する演算手段を備えた測距装置であって、前記第1及び第2の受光手段を、基線長方向に一列に配置すると共に、遠距離に位置する測距対象物を測距する場合は前記第2の受光手段を選択し、前記遠距離よりも近距離側に位置する測距対象物を測距する場合には前記第1の受光手段を選択する選択手段を設けたことを特徴とする測距装置。
引用特許：
前のページに戻る
